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二次图像测量仪的测量原理

文章来源：http://www.sjjhome.cn/news/hybk/1547.html 发表时间：2022-01-20
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二次图像测量仪的测量原理

1.基本测量原则

在实际测量中，同一被测对象可以采用多种测量方法。为了降测量不确定度，应尽可能遵守以下基本测量原则:

(1)阿贝原理:测量过程中被测长度和参考长度应放在同一条直线上的原理。如果被测长度与基准长度并排放置，在测量和比较过程中，由于制造误差、移动方向的偏差以及两个长度之间的夹角，会产生较大的误差。误差不仅与两个长度之间的角度有关，还与它们之间的距离有关。距离越大，误差越大。

(2)基准统一原则:测量基准应与加工基准和使用基准统一。即工艺测量应以工艺基准为测量基准，终检验量以设计基准为测量基准。

二次图像测量仪的测量原理


2.短链原则

在间接测量中，与被测量有函数关系的其他量与被测量形成测量链。形成测量链的环节越多，需要测量的不确定性就越大。因此，应尽可能减少测量链中的环节数，以保证测量精度，这被称为短链原则。当然，根据这个原理，用直接测量代替间接测量更好。因此，间接测量仅在无法使用直接测量或直接测量的精度无法保证时使用。短链原则的实际应用是，应使用少数量的量块来形成所需尺寸的量块组。小变形原则:由于实际温度与标准温度和应力(重力和测量力)的偏差，测量仪器和被测零件都会变形，导致测量误差。测量过程中，控制测量温度及其变化，保证测量仪器与被测零件有足够的等温时间，选择与被测零件线膨胀系数相近的测量仪器，选择合适的测量力并保持稳定，选择合适的支撑点等。，都是实现小变形原则的有效措施。

率先在国内推出电动数控自动测量图像绘图仪；

突破硬件的限制，实现纯软件功能的无光栅工作平台(多国专利)，并“解决”了大多数其他厂商无法解决的阿贝误差、迟滞误差等机械误差；

创建虚拟夹具的专利功能，即使你的夹具不标准，依然可以做高精度的矩阵阵列测量、圆阵列测量和二次编程测量；

Z轴补偿原理，真正实现图像的3D功能，“解决”测量行业内应力带来的精度误差困扰；

打造多镜头联动，实现精准测高功能(专利)。该技术“解决”了影像测量仪器无法快速准确测量身高的难题；

创建旋转照明(专利)，以“解决”各种困难的光学测量。


二次图像测量仪的测量原理


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